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概述：

CST-50型衝擊試樣缺口投影儀是為檢查夏比V型或U型衝擊試樣缺口質量而設計、開發的一種專用光學儀器，與刻在投影屏上的衝擊試樣缺口標準樣板圖進行對比，以確定被檢測的衝擊試樣缺口加工是否合格，對比直觀，操作簡單，效率高，是理化試驗室的必備專用設備。
技術參數：

投影屏： ￠200mm

放大倍數： 50X

光源： 12V 100W（鹵鎢燈）
電源： 220V 50Hz 150W
外型尺寸： 515×224×603mm
重量： 約18Kg